薄膜四探針方阻測試儀HPS58003是一款專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，塑料薄膜、金屬薄膜、金屬鍍層等同類物質(zhì)的薄層電阻。

           帶彈簧測試探頭, 接觸可靠, 工作穩(wěn)定, . 使用時(shí)只要把探頭輕輕壓在被測鍍膜上面,   無需任何調(diào)節(jié),新款方阻儀用5芯專用插座代替原有的香蕉插座，使得線纜不易折損，探頭的使用壽命極大延長。

產(chǎn)品留言

標(biāo)題

聯(lián)系人

聯(lián)系電話

內(nèi)容

驗(yàn)證碼

點(diǎn)擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!